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TF200薄膜厚度测量体例运用薄膜过问光学真理，对薄膜进行厚度测量及解析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜外观，探头同位接收反射光线。TF200薄膜厚度测量体例遵循反射归来回头的过问光，用一再校准的算法快捷反演计算出薄膜的厚度。测量界限1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜，还没关系测量n和k值。
SGC-10薄膜测厚仪适用于介质，半导体，薄膜滤波器、液晶等薄膜和涂层的厚度丈量。该薄膜测厚仪，是我公司与美国new-span公司合作研制的，采用new-span公司*的薄膜测厚技术，基于白光干预干与的真理测定薄膜的厚度和光学常数。
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